高低温湿热试验箱是用于电气电子元器件、自动化、通讯元器件、汽车零部件、金属零部件、化工材料、塑料等行业，国防工业、航空航天、工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及物理形状变化的高分子材料，测试材料拉一遍又一遍地和产品在输出高/低温热胀冷缩的化学或物理伤害,可以确认产品的质量,从精密集成电路到重型机械部件,可以使用,是一个重要的组成部分,产品测试测试用例的所有领域。

        电子元件是高低温湿热试验箱的基础，它可能由于其固有缺陷或在使用过程中对制造过程的控制不当，形成与时间有关或与应力有关的故障。为了保证整批部件的可靠性，满足整机的要求，在使用条件下，有必要将早期可能出现故障的部件拆除。零件的故障率随时间变化的过程可以用类似于“浴缸曲线”的故障率曲线来描述。早期故障率随时间的增加迅速下降，在使用寿命(或意外故障期)内故障率基本不变。

1、高温贮存

        电子元件的失效大多是由其机体和表面的各种物理、化学变化引起的，这些变化与温度密切相关。当温度升高时，化学反应速度大大加快，破坏过程也加快。使有缺陷的部件能及时外露，待拆除。

2、功率电老炼

        在筛选过程中，在热电应力的共同作用下，可以很好地暴露元器件内部和表面的各种潜在缺陷，这是可靠性筛选的一个重要项目。

       各种电子元件通常条件下额定功率老化几个小时到168小时,一些产品,如集成电路、不能随便改变条件,但可以使用高温工作改善工作结温,实现高应力状态,电动压力选择合适的各种组件,可以等于或略高于额定条件,但它不能吸引新的失效机理

3.温度循环

         电子产品在使用过程中会遇到不同的环境温度条件。在热膨胀和冷缩应力作用下，热匹配性能差的部件容易失效。温度循环筛分利用极端高温和极端低温之间的热膨胀和冷缩应力，可有效消除具有热性能缺陷的产品。常用的组分筛选条件为-55 ~ +125℃，循环5~10次。

4. 部件筛选的必要性

        电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计。在产品的制造过程中，由于人为因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终成品不可能达到预期的固有可靠性。

         高低温湿热试验箱是否能可靠工作，取决于电子元器件是否能可靠工作。如果将早期故障部件安装在整机设备上，整机设备的早期故障率将大大提高，其可靠性不能满足要求，需要付出巨大的修理代价。